Fuséiert Silica Mikroskop Rutschen

Kuerz Beschreiwung:

Fuséiert Silica Mikroskop Rutschen, och bekannt als Quarz Mikroskop Rutschen, si spezialiséiert Glas Rutschen déi a Mikroskopie Uwendungen benotzt ginn. Fused Silica ass eng héichreineg Form vu Glas déi gemaach gëtt andeems se reng Silica (SiO2) bei extrem héijen Temperaturen schmëlzen an fusionéieren. Dëse Prozess resultéiert an engem Material mat exzellenten opteschen Eegeschaften, héijer chemescher Resistenz a gerénger thermescher Expansioun.

Schéckt E-Mail un eis

Produit Detailer

Produit Tags

Fuséiert Silica Mikroskop Rutschen fannen Uwendung a verschiddene Mikroskopietechniken a Fuerschungsberäicher wou hir eenzegaarteg Eegeschafte profitabel sinn.

Quarz Charakteristiken

Transparenz:Fuséiert Silica huet eng héich Transparenz an den ultravioletten, sichtbaren an Infraroutregiounen vum elektromagnetesche Spektrum. Dëst mécht et ideal fir Uwendungen déi Imaging iwwer eng breet Palette vu Wellelängten erfuerderen.

Niddereg Autofluoreszenz:Fuséiert Silika huet ganz niddereg Autofluoreszenz, dat heescht datt et minimal Hannergrondfluoreszenz emittéiert wann se u Liicht ausgesat ass. Dës Eegeschafte ass entscheedend fir Fluoreszenzmikroskopie Techniken wou héich Empfindlechkeet a Signal-to-Geräusch Verhältnis erfuerderlech sinn.

Chemesch Resistenz:Fuséiert Silika ass héich resistent géint chemesch Attacke, sou datt et gëeegent ass fir mat enger breet Palette vu chemesche Flecken a Léisungsmëttel ze benotzen. Et kann d'Belaaschtung vu Säuren, Basen an organesche Léisungsmëttelen ouni Zerstéierung widderstoen.

Produkter gewisen

Typesch Uwendungen

Fluoreszenz Mikroskopie
Konfokal Mikroskopie
Héich Temperatur Imaging
Nanotechnologie Fuerschung
Biomedizinesch Fuerschung
Ëmweltwëssenschaft
Forensesch Analyse